光镜与扫描电镜联用系统

微米纳米链接平台—Shuttle & Find




应用:

      随着材料科学的高速发展,对材料的研究分析提出了更高的要求,例如LM与SEM和CLSM的结合使用。在材料研究中,对同一样品失效区域的多种手段观察尤为重要,但是传统的分析手段在对失效区域的定位和对比上则显得无能为力。为此,Carl Zeiss推出了一种全新的、行之有效解决方案“Shuttle & Find微米纳米连接平台”可实现同一分析区域三维图像和二维图像的对比研究,这种全新的样品适配器可装配到蔡司全部的扫描电镜(SEM)机型上和光学显微镜(CLSM)和激光共聚焦显微镜(LM)的全自动扫描台上,利用蔡司Axio Vision软件的“Shuttle & Find”模块。可在SEM上准确定位到在        CLSM上观察到的同一视场,首次实现利用LM与SEM和CLSM三种设备对同一区域实现快速定位、对比、分析。省去了不断寻找分析区域的繁琐过程。


图 1-1

图1-2

图1-3

      上图为EN-AC-AlSi7Cu3Mg合金,在铸造过程产生的气泡缺陷,图1-1为CLSM的光学明场像,图1-2为SEM二次电子像,图1-3为CLSM表面形貌像。所有图片均为同一位置,借助CLSM的“shuttle&find”功能,可实现对同一区域的快速定位分析,同时其3D方向上的测量优势可为实际工作提供更为准确的分析结果。

      目前利用CLSM,LM,SEM三者进行原位观察分析,在国外已经深入开展起来,此外观察时引入热台,借助LM的高分辨率成像,对很多以前所无法解释到的科学现象可以实现合理的解释。为科研、生产工作提供了极大便利。

特点

      Shuttle(硬件解决方案)

      ●快捷方便的在光学显微镜与电子显微镜之间进行样品转换。

      ●无需拆卸。

      ●无需喷金镀膜:电荷补偿技术、VP(低真空)技术及EP(超低真空)技术等为您解决了给非导体喷金镀膜的麻烦和困扰。

      ●支持蔡司的所有SEM/CrossBeam?电镜和Axio Imager,Axio Observer和SteREO Discovery系列的全自动光学显微镜之间的兼容。

      Find(软件解决方案)

      ●控制光学显微镜和扫描电镜的AxioVision图形用户界面

      ●快速可靠地再现您所感兴趣的分析区域

      ●光学显微镜和SEM/CrossBeam?电镜的AxioVision功能

      ■图像处理

      ■图像分析

      ■文档(制作)


较大的信息量-大的洞察力

      在光学领域超过160年的经验奠定了卡尔.蔡司在电子及离子束显微镜领域的先驱地位。优秀的成像和分析功能集成系统提供了大量的信息,这要超过了仅是高分辨率所能提供的信息量。

      利用多方位的技术组合,卡尔· 蔡司为您提供的设备既可根据您的要求为您量身定制,同时也为您考虑了未来的升级需求。利用我们多功能的应用解决方案,我们会努力成为您精挑细选之下的合作伙伴。

      具有优质的配置的地区性演示中心将为您提供应用方面的专业技术,这些专业技术是我们与享有盛誉的产业界和学术界人士合作,并不断完善的结果。