FIB切割

可用于IC芯片电路修改、截面制样、透射电镜样品制备、材料鉴定

上一篇下一篇
咨询热线：400-1001-303
产品 | 解决方案 | 技术服务 | 业务板块 | 公司信息 | 联系我们
Copyright © 2003-2023 北京欧波同光学技术有限公司 京ICP备17017767号-1
复制成功
微信号:13126536208
添加微信好友，详细了解产品。
知道了