电子元器件失效分析技术在保障电子产品可靠性和安全性方面具有重要作用，它能够帮助确定元器件失效的原因，为产品设计和制造过程提供改进依据，降低故障率，提高产品整体性能和使用寿命，本次论坛旨在为从事电子元器件失效分析的技术人员、科研工作者、企业管理人员提供一个交流、分享、学习的平台。 >

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本届大赛共决出精研赛di yi 名21 项、第二名 55 项、第三名 32 项，创新赛di yi 名 14 项、第二名 36 项、第三名 21 项，挑战赛di yi 名 5 项、第二名 13 项、第三名 7 项，失效分析能力赛国际学生组获奖 5 项，夺标赛di yi 名 6 项、第二名 6 项、第三名 5 项；对所有获奖项目指导教师均授予优秀指导教师奖。 >