Cratos W50 全自动数显显微硬度计
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     设备主要用途:

     显微硬度计主要用于小负荷维氏硬度试验,可测试小型精密零件、表面硬化层、有效硬化层、镀层表面、薄片材料、等硬度。由于加载的试验力很小,所以压痕很小,不会影响试样的外观及使用性能,是科研机构、工厂及质监部门进行材料研究和检测的理想硬度测试仪器;适用范围:热处理、碳化、淬火硬化层、表面涂层、层压金属、黑色金属、有色金属及微小及薄形零件等。


     技术指标:

     设备名称:CratosW50 全自动数显显微硬度计

     规格型号:Cratos W50

     Cratos W50 全自动数显显微硬度计是全新一代的硬度计,硬度计和电脑一体化设计,测量操作均在平板电脑上,操作方便快捷、显示清晰直观;升降丝杆采用蜗轮蜗杆结构,传动平稳;同时设备配备内置CCD图像采集系统,可在平板电脑上直接显示动态压痕图像并锁定,自动测量维氏硬度值,测量精度高,性能稳定,避免人为操作而造成的误差;自动记录测量数据,可生成硬度-深度曲线,保存成WORD文档。

     执行标准:ISO 6507,ASTM E384,JIS Z2244,GB/T 4340.2

产品参数

     一、设备主要技术参数:

     试验力:gf:10gf, 25gf, 50gf, 100gf, 200gf,300gf, 500gf, 1000gf;N:0.098N,0.246N, 0.49N, 0.98N, 1.96N, 2.94N, 4.90N, 9.80N

     硬度测试范围:1HV~2967HV

     测试模式:HV/HK

     试验力施加方法:闭环式传感器控制系统自动加载/保荷/卸载

     转换标尺:HV, HK,HRA, HRB, HRC, HRD, HRE, HRF, HRG, HRK, HR15N, HR30N, HR45N, HR15T, HR30T,HR45T, HS, HBW

     计算机系统:CPU:Intel I5,内存:2G,固态硬盘:64G

     硬度读取:自动读取

     数据输出:可生成WORD或EXCEL报告,得到曲线图

     摄像头像素:130W

     物镜和压头切换:自动切换

     分辨率:0.025μm

     保荷时间:0~60s

     光源:卤素灯光源

     数显X-Y试台:尺寸: 120×120mm; 行程: 25×25mm

     步进精度: 0.003mm

     试样最大高度:185mm

     压头中心至机壁距离:130mm

     电源:AC220V、50Hz

     外形尺寸:560×335×675mm

     设备重量:48kg

     包装重量:62kg

 

     设备硬件标准配置:

     设备主机:1台

     物镜:10×、40×物镜    各1只

     目镜:10×数显测微目镜    1只

     金刚石显微维氏压头:1只

     试台:数显十字、薄片夹持、平口夹持、细丝夹持   各1台

     砝码:6只

     砝码轴:1个

     水平调节螺钉:4只

     水平仪:1个

     卤素灯12V、15~20W:1个

     硬度块:标准硬度块400~500HV0.2   1块

     硬度块:标准硬度块700~800 HV1    1块

     U盘:1个

     触摸屏遥控器:1个

     触摸笔:1只

     鼠标:1个

     保险丝(1A):2条

     螺丝刀:2把

     电源线:1根

     设备防尘罩:1只

     产品说明书:1份

     产品合格证:1份

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