微米纳米连接平台，利用LM与SEM两种设备对同一区域实现快速定位、对比、分析。省去了不断寻找分析区域的繁琐过程。 >

SEM-XPS-SIMS >

扫描电镜-拉曼光谱联用可以对样品进行微区原位分析，实现对样品的系统性分析测试。鉴于可以从同一点采集扫描电镜数据与拉曼光谱数据，能够对样品表面形貌和物质分子结构的关系进行快速直观的表征。以SEM图像为基础，可以更准确地对样品选择测试区域进行快速、无损的物质成分分析，得到准确的样品组成数据。 >

在加热过程中观察材料的组织变化情况 >

在拉伸实验的同时，观察裂纹的萌生和扩展；加载速率可控，在产生裂纹后可保持加载状态进行照相，通过逐步加载，原位观测裂纹尖端的组织变化以及裂纹扩展路径与组织关系。 >

对材料微区进行元素定性半定量分析(点扫)；线扫时可提供样品中元素沿某条扫描线上的分布；彩色mapping图可显示元素的分布情况；同时在对材料进行失效分析时进行元素测定、辅助金相分析等 >