自动矿物分类，可得到矿物组成，矿物颗粒及矿物单体颗粒的矿物组成，样品的元素组成，矿物颗粒及矿物单体颗粒的元素组成，矿物元素的分布，矿物颗粒及矿物单体颗粒的分布，矿物颗粒及矿物单体颗粒尺寸、形态、比重信息，矿物及剂矿物元素回收率及品味估算，矿物生存关系，矿物矿相表面积比，矿物的连生关系，矿物的解离度等信息。 >

要进行EBIC测试的样品必须是半导体材料且含有内电场，用于分离电子空穴对 >

微米纳米连接平台，利用LM与SEM两种设备对同一区域实现快速定位、对比、分析。省去了不断寻找分析区域的繁琐过程。 >

SEM-XPS-SIMS >

扫描电镜-拉曼光谱联用可以对样品进行微区原位分析，实现对样品的系统性分析测试。鉴于可以从同一点采集扫描电镜数据与拉曼光谱数据，能够对样品表面形貌和物质分子结构的关系进行快速直观的表征。以SEM图像为基础，可以更准确地对样品选择测试区域进行快速、无损的物质成分分析，得到准确的样品组成数据。 >

随着人类环保意识的增强，锂电行业兴起。我公司提供多样的电池失效分析 >